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技术参数：
●测定原理 X射线荧光分析法
●测定方法 能量色散型
●测定对象 固体、液体、粉体
●样品形状 最大150mm× 150mm× 40mmH
●X射线管 Rh靶
●检测器 Si（Li）半导体检测器（μEDX-1200/1300型）
Si漂移半导体检测器（μEDX-1400型）
●测定范围 13Al ~ 92U （μEDX-1200型）
11Na ~ 92U （μEDX-1300型）
13AL ~ 92U （μEDX-1400型）

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